近期，中國(guó)科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所中科院強(qiáng)激光材料重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室利用提拉法生長(zhǎng)出的高品質(zhì)Ce:YAG閃爍晶體開展了高分辨率X射線成像系統(tǒng)核心器件——閃爍體研制工作，成功制備了尺寸為φ30mm，厚度為30-45μm的高品質(zhì)閃爍晶體元件，并和中科院上海應(yīng)用物理研究所合作，研制基于超薄Ce:YAG閃爍晶體的高分辨X光探測(cè)器，實(shí)現(xiàn)X光輻照條件下高分辨成像（如圖示）�？梢钥吹�，在同等實(shí)驗(yàn)條件下，與Crytur公司同類晶體對(duì)比，上海光機(jī)所研制的Ce:YAG閃爍晶體圖像邊沿銳度較高，圖像對(duì)比度好，成像分辨率高，圖像質(zhì)量更好。該項(xiàng)成果將在6月22日至26日舉辦的2014年度International Workshop on Radiation Imaging Detectors (iWoRID, Italy)會(huì)議上發(fā)表。
Crytur公司是國(guó)際知名的閃爍晶體生長(zhǎng)公司，閃爍晶體的性能一直處于國(guó)際領(lǐng)先水平，其制備的閃爍晶體探測(cè)器件在高能射線探測(cè)成像方面占據(jù)較多國(guó)際份額。Ce:YAG是一種重要的具有優(yōu)良閃爍性能的閃爍晶體，除了高能射線探測(cè)成像應(yīng)用外，在高能物理與核物理實(shí)驗(yàn)、安檢、醫(yī)療和軍事等領(lǐng)域有重要應(yīng)用。超薄Ce:YAG閃爍晶體的研制成功標(biāo)志著上海光機(jī)所在高性能閃爍體器件研制方面已處于該領(lǐng)域領(lǐng)先水平。通過與上海應(yīng)物所等優(yōu)勢(shì)單位協(xié)同創(chuàng)新，將有望研制性能更為優(yōu)良的各類高能射線探測(cè)器。
基于超薄Ce:YAG晶體的X光探測(cè)器獲得的超分辨成像（左圖為上海光機(jī)所閃爍晶體，右圖為Crytur公司的閃爍晶體）
