隨著科學技術(shù)的發(fā)展，光電設(shè)備功能更加豐富，性能指標更高，光學設(shè)備的光譜幾乎覆蓋了可見光到紅外的全部波段，不僅能夠獲得目標的物理特性參數(shù)還可以獲得目標的光譜特性信息。對于這種集多種光學儀器于一體的設(shè)備，光軸的平行度是一個重要性能參數(shù)，在保證系統(tǒng)精度和準確性方面起著至關(guān)重要的作用。

　　中國科學院西安光學精密機械研究所科研人員針對此問題，研究出一種光軸平行性標定系統(tǒng)及標定方法，并于近期獲得國家發(fā)明專利授權(quán)。

　　該方法測試設(shè)備簡單，只需要利用常用的光學檢測反射鏡和自準直經(jīng)緯儀，不需要笨重、復雜、昂貴的設(shè)備，既經(jīng)濟又方便；測試步驟簡單，過程變量少，測量精度高，數(shù)據(jù)處理過程簡單，實時性好，不僅可以用于多光軸平行度的標定，也使用于多傳感器系統(tǒng)的裝調(diào)；應用領(lǐng)域廣，不僅適用于多光軸光電設(shè)備的光軸平行性測試與標定，還適應于多個平行光管光軸的平行度測試；適應性強，不受各種傳感器之間的距離及各傳感器口徑的限制，可以用小口徑的自準直經(jīng)緯儀實現(xiàn)多個任意距離、任意口徑光電傳感器之間的光軸平行性測試。